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Industrieelektronik

DUT

Abkürzung für device under test, das zu testende Gerät oder die zu testende Vorrichtung.

DUT: das Bauteil oder die Baugruppe, die gerade geprüft wird

Ein DUT ist jedes Gerät, jede Leiterplatte, jedes Teilsystem oder jedes komplette Gerät, das gerade in einem Labor, einer Werkstatt oder im Feld getestet wird. Der Begriff existiert, weil Ingenieure und Techniker ein neutrales Wort für das brauchen, das gerade auf dem Prüftisch liegt, getrennt von der Testausrüstung selbst. Ob es um die Validierung eines Netzteils, die Qualifizierung eines Motorreglers oder die Sicherheitszertifizierung eines Verbraucherprodukts geht, das betreffende Teil ist das DUT. Der Testaufbau drumherum ist dagegen das ATE (Automatic Test Equipment) oder die manuelle Testausrüstung.

In der Produktion sitzt das DUT typischerweise in einer Vorrichtung oder einem Lastadapter, der es elektrisch an das Testkabel anschließt. Thermokammern, Schütteltische und Burn-in-Öfen enthalten alle DUTs. Signalgeneratoren, Multimeter, Oszilloskope und programmierbare Lastgeräte sind keine DUTs, sondern Messinstrumente, die das DUT beobachten oder belasten. Ein Techniker könnte sagen: "Das DUT zieht unter Last 3,2 A" oder "Wir haben einen DUT-Fehler an Pin 4", was bedeutet, dass das getestete Bauteil ausgefallen ist, nicht die Testausrüstung.

Rückverfolgbarkeit hängt davon ab, das DUT während des gesamten Testzyklus zu kennzeichnen oder zu verfolgen. Hersteller vergeben Seriennummern, Chargencodes oder Teststations-Kennungen für jedes DUT, sodass Ingenieure ein ausfallgefährdetes Bauteil später auf spezifische Testdaten, Temperaturbelastung, Spannungsstress oder Vibrationen zurückführen können, denen es ausgesetzt war. Das ist für hochzuverlässige Branchen entscheidend: Luft- und Raumfahrt, Medizinprodukte, Automobilindustrie und Militäranwendungen verlangen den Nachweis, dass jedes einzelne DUT nach Spezifikation getestet wurde.

Das DUT kann so klein wie ein einzelner Halbleiterkristall auf einer Prüfkarte sein oder so groß wie ein Motor oder ein komplettes Luftfahrtsystem. Bei der Halbleiterwafer-Prüfung werden Hunderte von Kristallen auf einem Wafer parallel getestet, aber jeder Kristall wird trotzdem als DUT (oder häufiger als Site) bezeichnet. Bei der Systemprüfung kann ein vollständig montierter Laptop oder Server das DUT sein. Die Grenze ist pragmatisch: Was die Testspezifikation als Prüfgegenstand definiert, ist das DUT.

Testingenieure müssen die Umgebung des DUT streng kontrollieren. Umgebungstemperatur, Feuchte, Vibration, elektromagnetische Störungen und Stabilität der Versorgungsspannung beeinflussen alle Ergebnisse. Ein DUT kann alle elektrischen Tests bestehen und trotzdem in der Produktion ausfallen, wenn es unter Bedingungen getestet wurde, die nicht der Feldwirklichkeit entsprechen. Daher findet anspruchsvolle Prüfung in kontrollierten Kammern statt und die Wiederholbarkeit von DUT-Messungen ist genauso wichtig wie die absolute Genauigkeit. Wenn dein DUT heute besteht, aber morgen dieselbe Testsequenz nicht, dann hat sich etwas an der Testausrüstung, nicht am Gerät selbst, verschoben.

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